耐久性测试项目(Endurance test items )Endurance cycling test, Data retention test①周期耐久性测试(Endurance Cycling Test )
目的: 评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能
Test Method: 将数据写入memory的存储单元,在擦除数据,重复这个过程多次
测试条件: 室温,或者更高,每个数据的读写次数达到100k~1000k
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准
MIT-STD-883E Method 1033
②数据保持力测试(Data Retention Test)
目的: 在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失
测试条件: 在高温条件下将数据写入memory 存储单元后,多次读取验证单元中的数据
失效机制:150℃
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:
MIT-STD-883E Method 1008.2
MIT-STD-883E Method 1033
在了解上述的IC测试方法之后,IC的设计制造商就需要根据不用IC产品的性能,用途以及需要测试的目的,选择合适的测试方法,的降低IC测试的时间和成本,从而有效控制IC产品的质量和可靠度。
数字集成电路和模拟ic的难度系数相较于大一些,由于好的商品所必须的像上边我常说的那般一个成员级別的室内设计师太少了。除了天赋勤奋的要素以外,更必须长期的打磨抛光。因此 **较强的数字集成电路高手,绝大多数全是饱经沧桑的**爷。以一辈子的工作经验去渐渐地打磨抛光一款商品。
相相对而言,数字电路设计,如果不考虑到独立加工工艺,立即用tsmc这类的代工生产得话,更非常*拉起一直精英团队的,每一个人只必须致力于一项,以团结协作制胜了。
转换:将HDL/VHDL的描述,转换成独立于工艺的寄存器传输级(RTL)网标,其中这些RTL模块之间通过连线,车载数字,实现互通互联。
映射:在综合环境中,目标工艺库(例如:TSMC40﹨TSMC22),将RTL级网标映射到目标工艺库上面,形成门级网标。
优化:设计人员添加相应的时序、面积约束。综合器以满足约束条件为目标,进行网标级别的优化。约束不同,然后得到的网标会不一样,并且,数字车载功放,DC的合成策略是时序**,所以只有在满足时序约束的基础上,才会进行面积的优化。如果经过优化,依然不能满足时序要求,则在后面时序报告中,将会出现时序违例的路径,在前端综合过程中,车载 数字收音机,我们一般只考虑建立时间(setup time)。设计人员需要分析时序违例的路径,进行各种处理,直到满足建立时间约束。
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